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产品介绍

CH－1－S型薄膜测厚仪

技术要求和特点：

一、 概述
   本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

二、主要参数
   1. 量程：0-1mm　分度值：0.001mm
   2. 上测头曲率半径：15-50mm
   3. 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
   4. 测量精度：100vm以内＜1vm
                100-250vm＜2vm
                 250vm＜3vm

电源标准

  无

标准配置

CH-1-S型薄膜测厚仪 主机一套 说明书一份。

可选附件

         无

标准证书

      执行GB-T6672-2001标准。