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上海标恒电子科技有限公司
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日本日置C测试仪3505/ 3506
- 仪器名称:C测试仪
- 仪器品牌:日本日置
- 仪器型号:3505/ 3506
- 送货时间:48小时内
- 标准价格:不详
- 本站售价:洽询
- 关键参数:对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 •反复测量精度更高,最适合生产线 •校正维修功能,减低由环境的温度变化影响 •测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能 •比测仪的设定值和测定值的同步显示 •2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量 •根据BIN的测定区分容量 •比测仪和触发器同步输出功能 输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件
性能参数介绍
软件下载: 无
资料下载: 无
产品介绍
C测试仪 3505/ 3506
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
•反复测量精度更高,最适合生产线
•校正维修功能,减低由环境的温度变化影响
•测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能
•比测仪的设定值和测定值的同步显示
•2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量
•根据BIN的测定区分容量
•比测仪和触发器同步输出功能
输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件
基本参数
测量参数 |
C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ) |
测量范围 |
C:0.000fF ~ 15.0000mF |
基本确度 |
(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
测量频率 |
3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz |
测量信号电平 |
500mV, 1V rms |
输出电阻 |
1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω 上述测量范围以外) |
显示 |
LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
测量时间 |
代表值: 2.0 ms (FAST) |
机能 |
BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS |
电源 |
AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大40VA |
体积及重量 |
260W × 100H × 298Dmm, |
附件 |
电源线× 1, 电源备用保险丝× 1 |
电源标准
标准配置
标准配套
可选附件
标准证书