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日本日置C测试仪3504-60/ 3504-50/ 3504-40
  • 仪器名称：C测试仪
  • 仪器品牌：日本日置
  • 仪器型号：3504-60/ 3504-50/ 3504-40
  • 送货时间：48小时内
  • 标准价格：不详
  • 本站售价：洽询
  • 关键参数：封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 •高速测量2ms •能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 •对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能 •3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 •3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 •查出全机测量中的接触错误，提高成品率 输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
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产品介绍

C测试仪 3504-60/ 3504-50/ 3504-40

 

 

          

 

 

 

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

•高速测量2ms

•能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断

•对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能

•3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试

•3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试

•查出全机测量中的接触错误，提高成品率

输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件

 

 

 基本参数

测量参数

Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）

测量范围

C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000

基本确度

（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数

测量频率

120Hz, 1kHz

测量信号电平

恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)

输出电阻

5Ω（开路端子电压模式,上述测量范围以外）

显示

发光二级管 （6行表示，满量程计算器根据量程而定）

测量时间

典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

机能

4端子控制检测功能（仅限3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-C抑制功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外）

电源

AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA

体积及重量

260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

附件

电源线×1，预备电源保险丝×1



电源标准

   

标准配置

标准配套

可选附件

 

标准证书