摄谱仪
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一米平面光栅摄谱仪31WIA | 光学仪器 | 送货时间：48小时内 | |
| 标准价格：不详 | OK17售价：洽询 | |||
| 简要说明：用 途 本仪器利用平面反射式光栅分光研究物质的成份和含量，主要用于金属合金（包括矿物井石）的日常定性定量分析，纯金属和材料的杂赞同鉴定，与各种附件配合，用作激光微区分析、记录闪光和弱光现象。 | ||||
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